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儀器:135-0001-7008
標(biāo)樣:191-9553-7296
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SPECTROLAB S 擁有世界上第一個(gè)基于CMOS的探測(cè)器的記錄系統(tǒng)，該系統(tǒng)非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用，它提供了極其快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。
在當(dāng)今的金屬分析領(lǐng)域，精確度和效率是衡量設(shè)備性能的兩個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)。德國(guó)斯派克分析儀器公司推出的SPECTRO MAXx系列直讀光譜儀，憑借CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）技術(shù)，正在重新定義金屬材料分析的標(biāo)準(zhǔn)。
在直讀光譜儀中分成CCD與COMS兩種類別的光譜儀，而觸及這一領(lǐng)域的人都知道，在直讀光譜儀中檢測(cè)部件十分的關(guān)鍵，而光譜儀檢測(cè)器鏡頭非常的重要，我們就來認(rèn)識(shí)一下光譜儀檢測(cè)鏡頭中CMOS相比CCD的優(yōu)勢(shì)。 · 信噪比CMOS信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對(duì)CCD來說幾乎是沒有的，所以測(cè)樣的穩(wěn)定性比CCD好很多 · 成本從成本角度來看，CCD相對(duì)于CMOS成本就要高出一截。 ·&nb
在直讀光譜儀中分成CCD與COMS兩種類別的光譜儀，而觸及這一領(lǐng)域的人都知道，在直讀光譜儀中檢測(cè)部件十分的關(guān)鍵，而光譜儀檢測(cè)器鏡頭非常的重要，我們就來認(rèn)識(shí)一下光譜儀檢測(cè)鏡頭中CMOS相比CCD的優(yōu)勢(shì)。 · 信噪比CMOS信噪比低了將近100倍，所以檢出限比CCD低了非常多。CMOS噪聲相對(duì)CCD來說幾乎是沒有的，所以測(cè)樣的穩(wěn)定性比CCD好很多 · 成本從成本角度來看，CCD相對(duì)于CMOS成本就要高出一截。 ·&nb
高端金屬分析的真正革命 ——世界首臺(tái)CMOS探測(cè)器（互補(bǔ)金屬氧化物）的直讀光譜儀正式安裝日前，富士和機(jī)械工業(yè)（湖北）有限公司安裝了第一臺(tái)CMOS探測(cè)器的德國(guó)斯派克SPECTROLAB直讀光譜儀，為該司熔煉鑄造工藝保駕護(hù)航。
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