檢驗(yàn)員喜愛的現(xiàn)場檢測能手-斯派克手持光譜儀

斯派克手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。

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德國斯派克光譜儀提供RoHS2.0檢測方案

ROHS2.0檢測，德國斯派克光譜儀為你提供解決以下問題？1.    拆分樣品需要花費(fèi)大量時間，如PCBA板，連接器等，有覺得麻煩或者效率不高嗎？2.    碰到極細(xì)小樣品，如貼片元器件，管腳，線材，無法精確定位測試，有時甚至由于樣品太小無法測試？3.    現(xiàn)有的XRF測試時間較長，一般需要5-15分鐘測一個樣品點(diǎn), 而您的測試量又巨大，有希望可以做到更快更好嗎？4.    測試結(jié)果有出現(xiàn)過誤判的情況嗎？這是很苦惱的情況，如果有誤判，

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ICP/XRF光譜儀在潤滑油及添加劑檢測中的應(yīng)用

等離子體發(fā)射光譜儀和X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于潤滑油添加劑的元素檢測。例如：鋁、銅、鎳或鐵等磨損金屬可指示油潤部件的磨損，并可在磨損達(dá)到臨界水平時發(fā)出信號。其他元素如硅、鎂或鉀的存在則會顯示出潤滑油受到的污染程度。通過測量鉬、鈣、鋇、磷和鋅等元素可以精確監(jiān)測添加劑的有效含量。德國斯派克分析儀公司的等離子體發(fā)射光譜儀用于檢測油品中的添加劑、磨損金屬成分。-    分析方法符合ASTM D4951，ASTM D5185及GB/T17476-    添加劑元素，諸如鉬、鈣、鋇、磷和

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光譜XRF在藥物研發(fā)中有什么應(yīng)用？

金屬催化劑通常用于原料藥的合成中,研發(fā)者需要監(jiān)測各種原料和合成工藝中金屬催化劑的殘留情況,從而實(shí)施有效的控制策略。通常使用靈敏度、精密度高和選擇性好的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES或ICP- OES)或ICP-MS,對藥物中的元素雜質(zhì)進(jìn)行分析。

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有色行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將出臺，波長色散XRF光譜儀是時候解下了

近日，在全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會重金屬標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)審定、任務(wù)落實(shí)會上，西南銅業(yè)申報立項成功的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《波長色散X射線熒光光譜法(銅熔煉渣中銅、鐵、硫、二氧化硅、砷、鉛、鋅、銻、鉍、鎳、氧化鈣、氧化鎂、三氧化二鋁的測定)》，確定其為起草單位，及參與該項標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證的一驗(yàn)、二驗(yàn)企業(yè)，并明確了標(biāo)準(zhǔn)編制的項目進(jìn)度計劃。

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環(huán)境分析應(yīng)用事例-排水分析

環(huán)境分析應(yīng)用事例排水分析（代替標(biāo)準(zhǔn)的篩選分析）1.除了汞之外，理學(xué)大型WDXRF都滿足GB5080要求的規(guī)定值。2.一般下照式對液體樣品合適，但是對含有固體浮游物的樣品，上照式波長色散x射線熒光光譜儀很合適。3.理學(xué)儀器對半定量分析有很多種類校正功能，理學(xué)ZSX軟件的優(yōu)點(diǎn)。4.在這兒介紹了定性半定量分析，如果能準(zhǔn)備標(biāo)樣，建立工作曲線進(jìn)行定量分析更好。必須品：1.樣品處理工具配件（上照式液體容器等）2.SQX軟件3.氦氣置換機(jī)構(gòu)推薦：SQX散射線FP法

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大氣粉塵濾片分析事例（中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)）

大氣粉塵濾片分析事例（中國環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)）日本理學(xué)正是大氣顆粒物元素分析的“老字號”，90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護(hù)中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。濾片基本上原樣分析，使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔(dān)心粉塵落下，濾片一般對X射線沒有那么耐性，所以調(diào)整分析條件更好1、把功率下降一點(diǎn)2、使用濾光片（Be,Al,Ni）必備工具：樣品處理工具配件（鋁制或者鈦制中空樣品杯，樣品支持板等等）推薦：對III型追加Ge晶體補(bǔ)充：大氣粉塵定量分析

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環(huán)境分析應(yīng)用事例 石油分析（質(zhì)量控制）

環(huán)境分析應(yīng)用事例石油分析（質(zhì)量控制）國家標(biāo)準(zhǔn) 車用汽油一、日本（揮發(fā)油等的質(zhì)量確保法）1、  Pb≦1ppm(沒有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn))2、  S≦10ppm(JIS K 2541-7)二、中國（中國國家標(biāo)準(zhǔn) GB17930-2016）1、  GB IV50 mg/kg, GB V-VIB≦10ppm(GB/T11140-2007)2、  金屬（沒有WDXRF方法標(biāo)準(zhǔn)）GB17930-2016密度-濃度換算0.72KG

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固體廢棄物分析方法（篩選分析）

固體廢棄物分析（篩選分析）1、在污水殘渣的原樣分析，對過半數(shù)元素通過SQX分析的固定角分析滿足HJ781-2016的LLD規(guī)定。雖然HJ781-2016是ICP-OES的標(biāo)準(zhǔn)，但是WDXRF也能作為篩選分析法使用。2、為了防止從樣品揮發(fā)成分的污染，使用樣品薄膜覆蓋殘渣樣品。3、如果可以的話，推薦灰化樣品。4、樣品設(shè)置時，上照式儀器很方便。推薦儀器：理學(xué)ZSX Primus III=/IV波長色散X射線熒光光譜儀必須品：樣品處理工具配件（MicroCarry,中空樣品杯，樣品薄膜，微量粉末容器），SQX軟件

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關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)

關(guān)于水泥窯協(xié)同處置固體廢物的標(biāo)準(zhǔn)《GB30485-2013水泥窯協(xié)同處置的固體廢物污染控制標(biāo)準(zhǔn)》《固體廢物 無機(jī)元素的測定波長色散X射線熒光光譜法征求意見稿》《HJ-662-2013水泥窯協(xié)同處置固廢廢物環(huán)境保護(hù)技術(shù)規(guī)范》一：GB30485參考HJ662.如果HJ662-2013要求的“”最大允許投加量就是各個原料（常規(guī)原料。常規(guī)燃料，廢物）的含量值，使用WDXRF控制污染不那么困難。（從分析上的觀點(diǎn)，這個限制值比較高。）二：因?yàn)镠J662不規(guī)定分析方法，所以應(yīng)該可以采用無標(biāo)的半定量分析。三

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德國斯派克手持式光譜儀xSORT在不銹鋼回收行業(yè)應(yīng)用

使用德國斯派克手持式光譜儀（XRF）可把不銹鋼廢料中的主要成分和雜質(zhì)元素檢測出來，不銹鋼的價值主要來自于鎳的含量高低，也存在鉬含量的成分更有特殊價值。不銹鋼廢鋼殘渣可用于不銹鋼再生產(chǎn)，還有鉻鐵廢料、鎳鐵廢料、碳鋼和低合金鋼廢鋼料、錳鐵廢料和鎳合金廢料等。在冶金過程不能減少的元素有P, V, Cu, W, Nb, Co, Sn, Pb和Ta。

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精密儀器之X射線熒光光譜儀

簡介：X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué)，考古學(xué)和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。使用型態(tài)：XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品，樣品中的元素之內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，

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什么是波長色散x射線熒光光譜儀？

波長色散x射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數(shù)4以上的所有化學(xué)元素，分析精度高，樣品制備簡單。X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）。從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發(fā)源，分

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德國斯派克XRF助力當(dāng)代考古科學(xué)發(fā)展

      考古學(xué)是依據(jù)古代物質(zhì)遺留以了解古代人類行為與當(dāng)時社會文化的學(xué)問，分析研究古代遺跡，獲取其豐富的潛在信息，探索古代人類社會歷史以及人類與自然的相互關(guān)系。到 20 世紀(jì)中期出現(xiàn)了一個新的考古學(xué)派, 形成了一門新的學(xué)科, 那就是“科技考古學(xué)”?？萍伎脊艑W(xué)就是利用自然科學(xué)和考古學(xué)的理論、方法和手段, 分析研究古代實(shí)物遺存, 獲取豐富的“潛”信息, 以探索人與自然的關(guān)系以及古代人類社會歷史的科學(xué)。從考古學(xué)的發(fā)展上看出，自然科學(xué)的學(xué)科在理

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日本理學(xué)波長色散型熒光光譜儀四大優(yōu)勢特點(diǎn)

日本理學(xué)波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF),一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在-一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大,一般為2~3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率,大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫,所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。

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波長色散型XRF-ZSX Primus系列X射線熒光光譜儀應(yīng)用

隨著用戶的需要也變得先進(jìn)和多樣化，理學(xué)集團(tuán)長年以來的技術(shù)研發(fā)、工藝技巧、分析方法之精髓匯集于一體，不斷滿足用戶不斷改變的需求，理學(xué)集團(tuán)研發(fā)了先進(jìn)的XRF-ZSX Primus系列在各大行業(yè)中被廣泛的應(yīng)用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波長色散型X射線熒光光譜儀在技術(shù)上更加的先進(jìn)，下面為大家簡單介紹波長色散型X射線熒光光譜儀在部分領(lǐng)域中的應(yīng)用。部分應(yīng)用1、鐵礦石分析 ASTM C114粉狀硅酸鹽水泥分析2、熔片法巖石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金鋼、不銹鋼中Si,Mn,P,S,Ni,C

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波長色散X射線熒光光譜儀的新進(jìn)展

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法，是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場分析主、次量和痕量元素的首選方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線）,從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型兩種，適用于測定鈹 (Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品，分析速度快，分析精度高，樣品制備簡單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。X-射線與物質(zhì)的交換XRF熒光光譜儀是可以

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硫化礦樣品的X射線熒光光譜分析

X射線熒光光譜分析技術(shù)(XRF)是利用X射線與物質(zhì)產(chǎn)生的X射線熒光而進(jìn)行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強(qiáng)度,從而實(shí)現(xiàn)定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高、非破壞性和對環(huán)境無污染等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于多領(lǐng)域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家戰(zhàn)略礦石之一,對其快速準(zhǔn)確分析在開發(fā)利用方面具有重要意義。目前,礦物、礦石樣品傳統(tǒng)分析周期長,操作繁瑣,不適合日?？焖俜治龅囊?。開發(fā)了X射線熒光光譜法快速測定硫化銅礦中主量元素的分析方法,實(shí)驗(yàn)采用玻璃熔融法制備硫化銅

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波長色散X射線熒光光譜儀

來源：分析測試百科網(wǎng)我國學(xué)者對不同時期WDXRF的進(jìn)展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。(1) 現(xiàn)代控制技術(shù)的應(yīng)用使儀器精度大幅度提升。WDXRF譜儀在制造過程中，從20世紀(jì)80年代起，一些機(jī)械部件為電子線路所取代，電子線路又進(jìn)而被軟件所取代。如一些儀器制造商分別用無齒輪莫爾條紋測角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動測角儀，取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動的測角儀，2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動的±0.001&d

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寶石鑒定的神器——XRF

X-Ray Fluorescence說到珠寶鑒定師，你一定認(rèn)為是一群擁有火眼金睛，一眼辨真假的孫悟空。如果你要這樣夸小吉，我也是不反駁噠o(*￣▽￣*)ブ在科技快速發(fā)展的21世紀(jì)，珠寶鑒定師的日常除了肉眼觀察和常規(guī)寶石學(xué)特征測試，還會用到現(xiàn)代儀器對寶石結(jié)構(gòu)和成分進(jìn)行分析，例如FTIR、XRF、EPMA等等。今天，大家一起來了解在元素測試方面十分厲害的XRF~XRF儀器簡介XRF全稱為X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)，是一種元素分析儀器，理論上可以測量化學(xué)元素周期表中11號元素Na到92號元

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